高總線速率和存儲速率的大系統(tǒng)測試平臺

面對測試部件的結(jié)構(gòu)復(fù)雜化，需要布置更多的測點用以獲取詳細(xì)的數(shù)據(jù)參數(shù)。尤其對 于大型發(fā)動機(jī)、大型液壓控制系統(tǒng)、大型風(fēng)洞以及大型振動臺等測試，通常需要較多的測 試通道用以組建測試平臺。此時我們需要保證測試數(shù)據(jù)在大通道、高采樣率下可靠存儲， 而傳統(tǒng)的 RS 總線、PCI 總線等形式，并無法保證在此種測試工況下正常存儲。因此通常情 況下，傳統(tǒng)總線的解決方式為：減少單臺設(shè)備通道數(shù)，以減少流盤存儲數(shù)據(jù) 傳統(tǒng)總線弊端： 需要很多測試設(shè)備組網(wǎng)進(jìn)行，同步性是否得以保證？ 多臺設(shè)備數(shù)據(jù)存儲是否完整？ 數(shù)據(jù)無法匯總，數(shù)據(jù)處理文件數(shù)較多。

德維創(chuàng) PXI/E 總線優(yōu)勢： 基于 PXI/E 的 AD 板卡，可保障單卡數(shù)據(jù)傳輸速率高達(dá) 200MB/S，而德維創(chuàng)的 DEWE3 系列機(jī)箱的存儲方式同樣進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計，其數(shù)據(jù)存儲速率可以達(dá)到 1GB/s，這也 是為什么 DEWETRON 的機(jī)箱可以做到單臺 128 通道，并實現(xiàn)高速數(shù)據(jù)存儲。

大型測試平臺

在前面的論述中我們提到，在面對大型發(fā)動機(jī)、大型液壓控制系統(tǒng)、大型風(fēng)洞以及大 型振動臺等測試任務(wù)時，由于結(jié)構(gòu)復(fù)雜、測點較多、傳感器類型復(fù)雜，大型測試平臺的建 設(shè)將逐漸增多，以應(yīng)對不同型號產(chǎn)品、不同測試任務(wù)的測試工作。 大型測試平臺特點：

① 設(shè)備支持信號多樣化； 

② 數(shù)據(jù)傳輸、數(shù)據(jù)存儲可靠；

③ 通道數(shù)量較多； 

④ 多臺設(shè)備可以組網(wǎng)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸； 

⑤ 通道間同步性高，可以保障時統(tǒng)信號統(tǒng)一和測試信號相位 

基于文章前面部分的功能描述，DEWETRON 設(shè)備可以滿足大型測試平臺的測試需求， 并在實際測試中取得穩(wěn)定可靠的表現(xiàn)。